簡(jiǎn)述HAST試驗(yàn)箱原理和試驗(yàn)說(shuō)明
作者：林頻儀器 發(fā)布日期：2023-03-17 11:24
一、
HAST試驗(yàn)箱是一種利用高溫和高相對(duì)濕度、高大氣壓力的條件下來(lái)加快空氣中的水分，通過(guò)外部保護(hù)材料或者芯片引線周圍的密封封裝的試驗(yàn)設(shè)備，用來(lái)考核其產(chǎn)品和材料在高溫、高濕、高氣壓情況下對(duì)濕度的一個(gè)抵抗力，可以加快其失效過(guò)程。
二、HAST試驗(yàn)箱適用于多種行業(yè)，例如IC半導(dǎo)體、連接器、線路板等相關(guān)行業(yè)產(chǎn)品，它能夠通過(guò)對(duì)樣品施加高溫高濕和高壓的方式，加速老化壽命試驗(yàn)，用以評(píng)估產(chǎn)品密封性能、吸濕性及老化性能。
三、HAST試驗(yàn)箱還能通過(guò)高度受控的壓力容器內(nèi)或創(chuàng)建溫濕度、壓力的條件下來(lái)完成，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本地或者產(chǎn)品內(nèi)部里。
四、相對(duì)于傳統(tǒng)的高溫高濕測(cè)試，HAST試驗(yàn)箱能夠加速溫濕度的老化效果，大大縮短可靠性評(píng)估的測(cè)試周期，節(jié)約時(shí)間成本。
